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ESDサージに対するプリント配線板上パターン電極間フラッシオーバ電圧のギャップ長依存性
◎岩井 将・坪井浩太郎(九州工業大学)・稲見 純・平林勝次(富士通テン)・大塚信也(九州工業大学)
プリント基板上の微小ギャップにおける破壊特性の検討が、絶縁耐性の観点から行われているが、静電気放電(ESD)を対象とした研究は著者が知る限りない。ESDに対する電子機器の誤動作の問題から、ESDサージに対するプリント配線板上パターン電極間のフラッシオーバ(FO)特性を明らかにすることは重要である。本論文では、プリント配線板上パターン電極間でのESDサージによるFO電圧特性のギャップ長依存性を調べ、その特性を各種放電理論に基づき検討した。