電気学会全国大会講演要旨
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光ファイバーアセンブリを用いた100 kHz〜10 MHzの高周波減衰量測定装置
○ウィダルタアントン(産業技術総合研究所)
高周波減衰量は高周波回路の基本量の1つとして重要であり、高周波電力計測やアンテナ計測等をはじめ、多くの高周波・マイクロ波計測及び校正技術において利用されている。産総研ではこれまでに10 MHzから40 GHzまでの高周波減衰量標準を確立して供給を行っている。一方、周波数範囲が数kHzから扱うEMC・EMI分野の最近の規格では,各量の計測に対するトレーサビリティも要求されるようになり、これに対応する標準も必要とされる。 本稿は産総研で開発されている周波数範囲100 kHz〜10 MHzの高周波減衰量測定装置について紹介し、光ファイバーアセンブリの導入による効果について述べる。