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電子機器内部の電磁界強度測定法の提案
◎小峯裕司・千代憲隆・田中康寛(東京都市大学)・前野 恭(情報通信研究機構)
近年、電子機器から照射される電磁ノイズが問題となっており、我々は、電磁波を吸収し発熱する幕(電磁波吸収幕)の温度変化を赤外線カメラで撮像することにより、電磁界強度分布を測定する装置を開発している。本装置では、2次元の電磁界強度分布を、設置した幕の温度変化として観測することで、波源の近傍でも測定対象である電磁界を乱すことは少なく測定できることが示されている。しかし、上記のような電子機器内部の電磁界評価では、幕の温度変化を観測するための赤外線カメラを機器内部に設置することは難しい。そこで、ここでは金網を通して温度分布を観測する手法を提案する。