宇宙環境において宇宙機は、激しい温度変動から搭載機器の温度を一定に保つために、高分子の多層断熱材(Multi Layer Insulator : MLI)で表面を覆われている。しかし、これらMLIは陽子や電子などの高エネルギー荷電粒子に直接曝されることで帯電し、放電事故を引き起こす原因となる。したがって、高エネルギー荷電粒子が照射された絶縁材料の電気絶縁特性を評価する必要がある。しかし、現在の宇宙機設計基準において放射線劣化材料の導電率や内部帯電評価については考慮をしていない。そこで、本研究では、プロトンを照射した絶縁材料の電気絶縁特性を導電率計測、内部帯電計測により評価した。