宇宙機に用いられている絶縁材料は、放射線帯やプラズマ環境に曝されることによって帯電・放電現象が発生し、絶縁材料の劣化や宇宙機に搭載されている機器の誤作動・故障を引き起こす。筆者らは絶縁材料で生じる内部帯電現象発生のメカニズムを解明するために、圧電素子誘起圧力波法を用いて電子線照射環境下における宇宙機用絶縁材料の内部帯電計測を行っている。既報より、一部の材料において、電子線照射中に負電荷蓄積が減少する現象が確認されている。そこで、この効果が絶縁材料内部の電気絶縁特性に与える影響を調査するために、電子線を照射した試料を用いて、直流高電界下での空間電荷分布測定をパルス静電応力法を用いて行った。