絶縁物の化学的評価結果をマハラノビス・タグチ（MT）法で解析することにより，77/66kV系受配電機器の絶縁劣化診断・余寿命推定技術を確立した。MT法で解析して得られたマハラノビスの距離と表面抵抗率は良好な相関関係を示したことから，絶縁劣化を精度良く評価可能であることを明確にできた。市場使用品の評価結果から，表面抵抗率の対数値と使用年数の実数値は直線関係になることが分かった。新品時と診断時の表面抵抗率を結んだ直線が放電閾値と交差する年数を求めることにより余寿命を推定した。絶縁物使用品の余寿命推定結果と放電確認試験結果に相関が見られたことから，本技術の妥当性を確認することができた。