P3HT/PCBM p-i-n型変形バルクヘテロ接合(BHJ)構造における分子膜の膜質の解明を目指し，素子と薄膜中の分子配置をX線回折により評価した．P3HTおよびPCBM膜それぞれに対する分子面間隔は1.63nm，および0.72nmとなった．P3HT:PCBM膜ではP3HTによるピークは観測されたが，PCBMのピークは見られなかった．素子においてもP3HTによる回折ピークが観測された，p-i-n型BHJ素子はi型素子と比較し，P3HTでのピークが鋭くなりX線強度も増加した．BHJ膜をp-i-n BHJ構造化することにより，膜内のP3HT分子は従来の単純BHJ膜と比較し整列性が，より増大していることを明らかにした．これらの結果を基にp-i-n BHJ構造の分子分布を推定した．