7-008
過電圧印加による電気二重層キャパシタの劣化評価
◎田口幹雄・稲葉裕大・末永 寛・田中優一・田島大輔・大坪昌久(宮崎大学)
電気二重層キャパシタ(EDLC: Electric double layer capacitor)は大電流充放電が可能で理論上劣化しないため、電気自動車などの始動用電源としての応用が期待されている。しかし、商用化されているEDLCは過電圧や高温使用などにより劣化することが確認されている。本研究では、円筒型EDLCを用いて過電圧印加における充放電試験を行い、劣化の進行度を検討した。また、静電容量や内部抵抗の変化と自己発熱温度の関係性から劣化要因の検討を行った。その結果、印加電圧の増加に伴い静電容量変化率は減少し、内部抵抗変化率は増加した。また、過電圧印加状況で自己発熱温度は充電時には内部抵抗により温度が上昇し、放電時には、温度が低下することが分かった。