塩化ビニル絶縁平形（VFF）コードの導体間を拡げた損傷に対して、広帯域インピーダンス分光（BIS）法の適用を試みた。インピーダンスアナライザを用いて、広い周波数域についてインピーダンス値、位相角をVFFコードの両端から測定し、取得データを内挿補間により測定点を増加させ、高速フーリエ逆変換（IFFT）することで損傷位置標定を行った。切り込みのない場合と比較して、インピーダンス値、位相角のIFFT結果ともに導体間隔拡大位置に明瞭なピークを確認することができる。特性インピーダンスを測定するBIS法は導体間を拡げたVFFコードに対しても損傷位置の標定が可能なことを確認した。