ノズル内ガス吹付けアーク減衰過程の理解は，ガス遮断器の高性能化に向けて重要である．特に，現在消弧ガスとして広く使用されているSF6ガスの電流遮断後の電子密度は，遮断性能に本質的に関わるため，重要なパラメータである．我々のグループではノズル内ガス吹付けアーク減衰過程の電子密度および電子温度の時間発展計測を，レーザトムソン散乱法を用いて行っている．これまでの研究で既に，Ar/SF6混合ガスアーク（SF6ガス混入割合は20%以下）の電子密度計測結果を報告している．しかし，SF6ガス割合が増すと，アーク形状が不安定となり，計測が困難となることがわかった．この問題には，トムソン散乱計測用レーザの形状を工夫することで対処した．