人工衛星などの宇宙機は温度変化の激しい宇宙環境を飛行するため、機内の温度を一定に保つ必要がある。そこで、宇宙機表面には高分子製の熱制御材料や太陽光反射材が使用されている。宇宙機は荷電粒子やプラズマで満たされた領域で運用されているため、宇宙機表面材料は帯電・放電が発生し、材料の劣化や搭載機器の誤作動・故障が発生する。そのため宇宙機設計段階から、絶縁材料の電気的特性調査が重要となっている。本報告では、試料にフッ素系絶縁材料であるETFEおよびFEPを用い、電子線照射試料に直流高電圧を印加しその際の試料内お空間電荷分布測定を実施した。その結果未照射試料では観測されなかった空間電荷分極や陽極からの大量の電荷注入が確認されたので報告する。