固体絶縁機器の絶縁体内部におけるボイドや剥離等の欠陥内部で生じる部分放電が機器の劣化を早めることが報告されており、機器寿命と部分放電の関係を調査、検討し課電寿命評価の基礎とすることを目的としている。本研究ではエポキシ樹脂で平行平板に配置した電極をモールドした試料を用いて、交流電圧17.5kVで部分放電電荷量を測定しながらV-t試験を行った。その結果、放電電荷量が小さい試料ほど寿命が長くなる傾向を示し。また、その中でも大きい放電は寿命に大きな影響を及ぼすことが認められた。