蒸着金属を電極とする金属化フィルムコンデンサの特徴の一つに、製品の高電圧化に対する安定性・信頼性を向上させる目的で絶縁破壊部分を切り離すヒューズ機能(保安機能)が蒸着パターンにより付加されている。効果的なヒューズの設計を行うためには蒸散及び放電メカニズムを詳しく知る必要がある。筆者らはこれまでに保安機能におけるヒューズを模擬した試料を作製し、回路中の電流および電圧波形からヒューズの蒸散、非蒸散を判別できることなどを報告した。本研究では模擬したヒューズの形状がヒューズの蒸散機構に与える影響を調査したので報告する。