本報では，走査型プローブ顕微鏡(SPM)により，ケーブルの絶縁に用いられている高分子試料の表面をミクロ的に観察し，結果を実ケーブルにおいて劣化監視に用いられているインデンターモジュラスというマクロ的な評価と比較する。試料として，難燃エチレンプロピレンゴム(FR-EPDM)を使用し，熱処理，放射線照射，熱処理と放射線の同時照射という種の劣化を施した。劣化したFR-EPDMでは，SPMによるフォースカーブの微係数による表面物性評価によって，表面が硬くなっていることが分かった。また，インデンターモジュラスと比較し，SPMがFR-EPDMの顕微観察が可能で優れていることが分かった。