フォトクロミック分子のひとつであるアゾベンゼンのcis-trans光異性化は，熱や光によって分子の形や屈折率などの物性値が著しく変化することが知られている。これらの性質を持つアゾベンゼンを側鎖にもつ高分子が，アゾベンゼン高分子である。アゾベンゼン高分子を用いたフォトニック結晶の電磁界計算には，屈折率の波長依存性の情報が必要であるが，異方性媒質の屈折率測定は容易ではないため，これまでほとんど検討されていない。そこで本研究では，アゾベンゼン高分子フォトニック結晶の電磁界解析のために屈折率の波長分散性を測定することを試みたので，それを報告する。