バイパスダイオードが劣化等により動作しない場合、短絡電流Iscの小さい異種モジュールには逆電圧が発生し、過熱・焼損等の危険性がある。これまでに筆者らは、基本モジュールに対しIscが小さく開放電圧Vocが大きい異種モジュールを入れた場合の逆電圧発生状況を調査し、逆電圧発生確率はパワーコンディショナの最大出力点追従制御により異なること、ストリング間のVoc比の影響を受けることを確認した。本報告では基本モジュールに部分影をつくり、その面積をかえることにより、全ストリングのVocは同一でIscのみを変化させた時の逆電圧発生状況を調査したので報告する。