架橋ポリエチレンには課電劣化の進行しないスレッシュホールド電界が存在し、大部分のケーブル中の欠陥先端電界についてはこれを下回ることから課電劣化は進行しないと考えている。しかし、存在する割合は低いが、異物が内導に接触している場合等では、スレッシュホールド電界を超過する。今回、模擬欠陥入りCVケーブル試料を用いて、50000時間を超えるスレッシュホールド電界を超える電界領域における長期寿命特性の検証を行いV-t特性を把握し、n値の定量化検討を行うともに、模擬欠陥部先端の酸化劣化を測定しその電界依存性、スレッシュホールドの存在等に関する検討を行った。