宇宙環境では電子や陽子などにより表面材料が帯電して、静電放電を引き起こし宇宙機事故が発生することが報告されている。そのため宇宙機設計段階で表面材料の帯電特性を理解する必要があり、本研究では陽子線照射された絶縁材料の帯電特性の解明を目的としている。今回は陽子線照射したポリイミドの電荷蓄積の経時変化を見るため、Upilex®-S、Kapton®-Hにおける陽子線照射後の伝導電流の測定を行った。その結果Kapton®-Hでは陽子線照射により上昇した伝導電流が照射1日後には未照射試料と同程度まで減衰したが、Upilex®-Sでは照射1週間後も未照射試料と比較して高い電流量であった。これらの結果から両試料で正孔電子対の再結合する速さが異なると考えられる。