ヴァン・アレン帯で運用される宇宙機の表面材料では高エネルギー粒子等の照射により帯電・放電現象が発生し、材料の劣化や搭載機器の誤作動や故障等の事故が発生すると言われており、放射線照射による宇宙機構成絶縁材料の電気的特性変化の調査が重要である。本研究では、OSR等に用いられるフッ素系材料に電子線を照射した後、直流電圧を印加し空間電荷蓄積特性の変化を調査している。今回は、電子線照射試料の照射面に未照射試料を積層し、外部からの電荷注入を遮断させることで、試料内部に電子正孔対が生成されているかを調査した。