300°Cで溶融後急冷及び180〜250°Cで再結晶化させたポリエチレンナフタレート（PEN）に対し，テラヘルツ吸収スペクトルおよびX線回折（XRD）スペクトルを測定した。その結果， XRDスペクトルで2θ=15.6，23.4，27.1°にピークが現れる試料は，2.15THzにピークが観測され，特に2θ=15.6°の強度と相関がある。また，XRDスペクトルでハローピークが現れる試料は，2.15THzのピークが観測されない。したがって，結晶性に関連していると考えられる2.15THzピークからPENの結晶性を評価できる可能性がある。