単板磁気特性試験器（SST）による高精度な磁気特性の測定を行うためには，測定範囲付近における磁界分布の均一度が重要である．そこで本稿では，代表的な最適化手法である遺伝的アルゴリズム（GA）を用いて，測定範囲における磁界の均一度向上を目的とした SSTの励磁巻線の形状最適化を行った．しかし，SSTの補償巻線では設計の自由度が大きいため，設計変数が膨大になることに起因して，計算コストの増加が問題となる．そこで，適切な巻線形状を実用的な計算コストで導出できるように，最適化計算を多段階的に使用し，設計変数の削減および収束特性の向上を試みた．