熱間圧縮試験時の試験片および金型の温度を精度よく推定する誘導加熱解析手法を検討した．その結果，熱間圧縮試験時に実測した加熱コイル電流値を用いて試験片内の発熱密度分布を計算し，さらに試験装置内における固体表面間の輻射熱伝達を考慮することで，試験片および金型温度の実測値を良好に再現することが確認できた．