コイル巻線間での部分放電を抑制する方法として絶縁皮膜の低誘電率化があり、皮膜内に気泡を入れることで誘電率を低下させることができる。本研究では皮膜内に気泡の入った発泡エナメル線と通常のエナメル線を用いて測定を行い、エナメル線の部分放電特性における皮膜内の気泡の影響について調査した。2種類のエナメル線を比較すると、PDIVについては発泡エナメル線の方が通常のエナメル線よりも高くなり、部分放電発生回数については電圧印加初期は発泡エナメル線が少なくなったが時間経過後は同程度となった。