著者らはエポキシ樹脂によってモールドされたAMB（Active Metal Blazing）基板をモジュールモデルとしてその絶縁性能を評価することにより，次世代パワーモジュールの開発期間の短縮化を狙っている。なお，AMB基板とは，セラミック基板に厚銅基板をAMB法で接合した放熱用絶縁基板である。本稿では, そのモジュールモデルに長期課電した後に部分放電開始電圧（Partial Discharge Inception Voltage：PDIV）を測定し，長期課電後のPDIVの変化を評価した。5 kVrms, 2.1 kHzの交流電圧を6個の試料に対して印加したが, その結果PDIV値の変化に一貫性はなく, 低下傾向もはっきりと見ることは出来なかった。今後は，更なる高電圧における長期課電後のPDIV変化および劣化現象を検討していく。