宇宙機はヴァン・アレン帯で運用されており、電子や陽子などに直接曝されることで、宇宙機表面で帯電・放電現象が発生する。放電現象が生じることで材料の劣化や搭載機器の誤作動等の事故が発生し、宇宙機事故に発展する危険性がある。そのため、宇宙機設計段階から構成材料の電気的特性が重要となる。本研究では、OSRやワイヤーハーネスに用いられるフッ素系絶縁材料に電子線を照射し、直流高電界下での空間電荷蓄積特性をPEA法により評価している。今回、ETFEに加速エネルギーが異なる電子線を照射し、電子線照射試料の照射面側に電荷注入障壁を挿入することで、電子線の加速エネルギーと試料内部に生成される電子正孔対の生成量の関係を確認した。