現在運用されている数多くの宇宙機は、温度変化の激しい環境下で運用されているため、機内の温度を一定に保つ必要がある。そこで、宇宙機表面には高分子絶縁材料を用いた熱制御材や太陽光反射材が使用されている。これらは荷電粒子等に直接曝されることによって、帯電・放電を引き起こす。帯電・放電が原因で材料の劣化や搭載機器の誤作動・故障に繋がる危険性がある。そのため宇宙機設計段階から、絶縁材料の電気的特性を把握することが重要となる。本報告では、フッ素系絶縁材料であるETFEに電子線を照射し、照射中および照射後の内部帯電計測を行った。電子線照射中にも関わらず、負電荷の蓄積量が減少する傾向がETFEで確認されたので報告する。