真空インタラプタ(Vacuum interrupter: VI)の絶縁状態を把握するためには，VI内部における放電箇所および放電パターンの識別が重要である．本研究では，外部からの光学的な観測が困難なVI内部の複合絶縁系における放電パターンに対して，放電進展特性に基づく放電パターンの識別手法を提案し，VIモデルにおける検証実験を行った．5種類50回の放電パターンを識別することができた（識別率93%）．したがって，提案した識別手法がVI内部の複合絶縁系における放電パターンの識別に対して有効であると言うことができる．