筆者らは，一つのI-V特性からバイパスダイオードの短絡・開放故障を同時に判定する方法を検討している。これまでに，住宅用太陽光発電システム程度のモジュール直列数であれば，遮光部のバイパスダイオードが一個だけ短絡・開放した場合を判定できる事を示した。この方法では，開放故障はI-V特性の段差の有無により判定できるが，短絡故障はI-V特性から算出する電圧比率により判定を行う。したがって，短絡故障数が増えると，判定が難しくなる事が懸念される。本稿では，遮光部のBPDの短絡故障数を増やした場合に，正常な状態と短絡状態を判定できるか検討した。