筆者らはPVアレイの点検方法の一つであるI-V特性の測定に着目し，I-V特性の数値化（CF値）によってI-V特性の僅かな変形の検出方法を検討してきた。これまでの研究から，CF値に対して重回帰分析の区間推定法を用いると，単結晶・多結晶モジュールは同じ重回帰式で不具合判定ができるとわかった。本報はこの結果の更なる裏付けとして，同じ周囲条件でもCF推定値は同じ値になるか，3通りの条件で検討した。その結果，周囲条件が同じであれば，単結晶・多結晶モジュールのCF推定値は同じ値となることを確認した。このことから，単結晶・多結晶モジュールは同じ重回帰式で不具合判定ができ，モジュール毎に重回帰式を求める必要はないと考えられる。