AI技術は、自動運転車をはじめ、家電や産業ロボットなど、幅広い分野へ適用が進んでおり、ソフトウェアだけでのAIの実現では限界となるケースも出てきており、AIチップの開発が加速している。自動運転車においては、予測・分類・実行(判断)といった処理をAIチップを利用して行うことになり、当該チップが故障することによる影響は計り知れない。そこで著者らは、Trの劣化に起因する故障に着目し、LSIの劣化による遅延増加を、故障に至る前に検知する手法を提案し実用化を進めている。様々な環境下での利用を想定し、温度や電圧による遅延変動を補正した上でLSI内部の遅延値を測定できることを試作したLSIを使って説明する。